102年第2學期-5328 薄膜與材料分析技術專題(二) 課程資訊

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選課分析

本課程名額為 70人,已有9人選讀,尚餘名額61人。

評分方式

評分項目 配分比例 說明
平常成績 40 包括出席, 作業,問答
報告 40 專題書面及口頭報告
小考 20 隨堂小考

授課教師

蕭錫鍊

教育目標

介紹固體材料物理性質分析之光譜技術及顯微術

課程資訊

參考書目

1. Optical Diagnostics for Thin Film Processing, Irving P.Herman, 1996, Academic Press
2. 講義
3. Introduction to solid state physics 8 edition (Charles Kittle)
4. Thin Film Deposition