103年第2學期-0908 材料:材料分析 課程資訊
評分方式
評分項目 | 配分比例 | 說明 |
---|---|---|
Attendance | 5 | |
Term Paper | 15 | |
Presentation | 30 | |
Final | 50 |
選課分析
本課程名額為 45人,已有49 人選讀,尚餘名額-4人。
本課程可網路登記,目前已登記人數為 25 人,選上機率為-16%
登入後可進行最愛課程追蹤 [按此登入]。
授課教師
何志松教育目標
The purpose of this course is to introduce a series of material analysis methods to students. The content of this course includes surface analysis techniques, X-ray diffraction methods, thermal analysis tools, chromatography, and analytical electron microscopes.
課程概述
The purpose of this course is to introduce a series of material analysis methods to students. The content of this course includes surface analysis techniques, X-ray diffraction methods, thermal analysis tools, chromatography, and analytical electron microscopes.
課程資訊
基本資料
選修課,學分數:0-3
上課時間:五/3[A103] 二/3,4[A106]
修課班級:化材系3,4
修課年級:年級以上
選課備註:
教師與教學助理
授課教師:何志松
大班TA或教學助理:尚無資料
Office HourTime: Anytime if available or by appointment
Place: CME 211
授課大綱
授課大綱:開啟授課大綱(授課計畫表)
(開在新視窗)
參考書目
Textbook:
J. C. Vickerman and I. S. Gilmore, Surface Analysis-The Principal Techniques, 2nd edition, John Wiley & Sons, 2009.
References:
1. D.J. O’Connor, B.A. Sexton, and R.St.C. Smart edited, Surface Analysis Methods in Materials Science, Springer, 1992.
2. P.G. Merli and M.V. Antisari edited, Electron Microscopy in Materials Science, World Scientific, 1992.
3. B.D. Cullity, Elements of X-ray Diffraction, 2nd Edition, Addison-Wesley, 1978.
4. 吳泰伯等, 材料分析儀器, 精密儀器發展中心, 1998.
5. 汪建民編, 材料分析, 中國材料科學學會, 1998.
開課紀錄
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