106年第2學期-5328 薄膜與材料分析技術專題（二） 課程資訊
評分方式
| 評分項目 | 配分比例 | 說明 |
|---|---|---|
| 平常成績 | 40 | 包括出席, 作業,問答 |
| 報告 | 40 | 專題書面及口頭報告 |
| 小考 | 20 | 隨堂小考 |
選課分析
本課程名額為 70人，已有10 人選讀，尚餘名額60人。
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教育目標
介紹固體材料物理性質分析之光譜技術及顯微術
課程資訊
基本資料
選修課，學分數：0-3
上課時間：三/12,五/10,11[BS508A]
修課班級：應物系3,4,碩博1,2
修課年級：年級以上
選課備註：研究實驗室專題課，應物系3,4可選修，人工選課
教師與教學助理
授課教師：蕭錫鍊
大班TA或教學助理：尚無資料
Office Hour一/2,3,4[BS502]
授課大綱
授課大綱：開啟授課大綱(授課計畫表)
(開在新視窗)
參考書目
1. Optical Diagnostics for Thin Film Processing, Irving P.Herman, 1996, Academic Press
2. 講義
3. Introduction to solid state physics 8 edition (Charles Kittle)
4. Thin Film Deposition
開課紀錄
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