106年第2學期-5328 薄膜與材料分析技術專題(二) 課程資訊

評分方式

評分項目 配分比例 說明
平常成績 40 包括出席, 作業,問答
報告 40 專題書面及口頭報告
小考 20 隨堂小考

選課分析

本課程名額為 70人,已有10 人選讀,尚餘名額60人。


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授課教師

蕭錫鍊

教育目標

介紹固體材料物理性質分析之光譜技術及顯微術

課程資訊

參考書目

1. Optical Diagnostics for Thin Film Processing, Irving P.Herman, 1996, Academic Press
2. 講義
3. Introduction to solid state physics 8 edition (Charles Kittle)
4. Thin Film Deposition

開課紀錄

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