99年第1學期-4258 薄膜與材料分析技術專題（一） 課程資訊
評分方式
| 評分項目 | 配分比例 | 說明 |
|---|---|---|
| 平常成績 | 40 | 包括出席, 作業,問答 |
| 報告 | 40 | 專題書面及口頭報告 |
| 小考 | 20 | 隨堂小考 |
選課分析
本課程名額為 30人，已有10 人選讀，尚餘名額20人。
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授課教師
蕭錫鍊教育目標
介紹固體材料物理性質分析之光譜技術及顯微術
課程資訊
基本資料
選修課，學分數：3-0
上課時間：三/10,五/9,10[BS506]
修課班級：物理碩1,2,3,4
修課年級：年級以上
選課備註：開學二週內親自找任課教師登記; 物理34可選
教師與教學助理
授課教師：蕭錫鍊
大班TA或教學助理：尚無資料
Office Hour五/2,3,4[BS502]
授課大綱
授課大綱：開啟授課大綱(授課計畫表)
(開在新視窗)
參考書目
1. Optical Diagnostics for Thin Film Processing, Irving P.Herman, 1996, Academic Press
2. 講義
3. Introduction to solid state physics 8 edition (Charles Kittle)
4. Thin Film Deposition
開課紀錄
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