114年第1學期-5537 製程：半導體元件物理與可靠度分析 課程資訊
評分方式
| 評分項目 | 配分比例 | 說明 |
|---|---|---|
| 期中考 | 25 | |
| 期中報告 | 35 | |
| 期末分組報告 | 40 |
選課分析
本課程名額為 30人，已有19 人選讀，尚餘名額11人。
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授課教師
劉建邦教育目標
本課程旨在深入介紹半導體元件的物理原理，並進一步探討其在實際應用中的可靠度議題與分析方法。學生將學習如何從物理層面理解元件劣化機制、失效模式及可靠度評估技術，為未來從事半導體元件設計、製程整合開發與良率缺陷的可靠度工程建立基礎。
課程資訊
基本資料
選修課，學分數：3-0
上課時間：三/3,4,四/5[CME115]
修課班級：化材系4,碩1,2
修課年級：1年級以上
選課備註：
教師與教學助理
授課教師：劉建邦
大班TA或教學助理：尚無資料
Office HourCME120 (Mon~Fri)
授課大綱
授課大綱：開啟授課大綱(授課計畫表)
(開在新視窗)
參考書目
Neamen - Semiconductor Physics And Devices 4E
S.M.Sze - Physics of Semiconductor Devices, Wiley
Neil Goldsman - Semiconductor and Device Physics: A Concise Introduction, Spring
B.JayantBaliga - Fundamentals of Power Semiconductor Devices, Spring 2E
Micron-semiconductor-fundamentals-and-pn-junction-device-physics-presentation
開課紀錄
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