114年第2學期-5767 半導體元件分析技術 課程資訊
評分方式
| 評分項目 | 配分比例 | 說明 |
|---|---|---|
| 出席率 | 15 | |
| 作業 | 20 | |
| 期中考 | 30 | |
| 期末考 | 30 | |
| 心得報告 | 5 |
選課分析
本課程名額為 70人，已有0 人選讀，尚餘名額70人。
本課程可網路登記，目前已登記人數為 7 人，選上機率為99.9%
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授課教師
劉志毅教育目標
1.Introduction of IC
2.Introduction of failure analysis
3.Introduction of material analysis
4.Introduction of various analysis techniques
課程概述
This course introduces a range of analysis techniques for semiconductor devices, with a particular emphasis on Integrated Circuits (ICs). It begins with an overview of semiconductor devices, followed by a focus on failure analysis and material analysis. The course then covers various additional analysis techniques relevant to semiconductor applications.
課程資訊
基本資料
選修課，學分數：0-3
上課時間：二/6,7,8
修課班級：電機系3,4,碩1,2
修課年級：3年級以上
選課備註：英文授課
教師與教學助理
授課教師：劉志毅
大班TA或教學助理：尚無資料
Office Hour二/4,5
授課大綱
授課大綱：開啟授課大綱(授課計畫表)
(開在新視窗)
參考書目
自編教材
開課紀錄
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